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恒溫恒濕試驗(yàn)箱JEDEC半導(dǎo)體可靠度測(cè)試與規(guī)范

JESD22-A100E-2020循環(huán)溫濕度偏壓表面凝結(jié)壽命試驗(yàn)

   說明：透過溫度循環(huán)+濕度+通電偏壓，來測(cè)試非密封封裝的固態(tài)器件在潮濕環(huán)境中的可靠度，這個(gè)測(cè)試規(guī)范采用[溫度循環(huán)+濕度+通電偏壓]的手法，可以加速水分子通過外部保護(hù)材料(密封劑)與通過金屬導(dǎo)體之間的界面保護(hù)層來滲透，這樣的測(cè)試會(huì)讓表面產(chǎn)生結(jié)露，可以用來確認(rèn)待測(cè)品表面的腐蝕與遷移現(xiàn)象。

推薦設(shè)備：HT 

JESD22-A101D.01-2021穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命測(cè)試

   說明：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在施加偏壓的條件下進(jìn)行溫度-濕度壽命測(cè)試的定義方法和條件，該測(cè)試用來評(píng)估潮濕環(huán)境中非氣密包裝的固態(tài)設(shè)備可靠性(如:密封IC器件)，采用高溫和高濕條件以加速水分通過外部的保護(hù)材料(密封劑或密封)，或沿著外部保護(hù)涂層與導(dǎo)體與其他穿過部件之間的界面滲透。

推薦設(shè)備：HT