三箱式冷熱沖擊試驗箱封裝產(chǎn)品具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,沖擊時間999小時59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn),大程度上實現(xiàn)自動化,減輕操作人員工作量,可在任意時間自動啟動、停止工作運行;
型號:TSD-150F-2P | 瀏覽量:977 |
更新時間:2024-07-11 | 是否能訂做:是 |
三箱式冷熱沖擊試驗箱封裝產(chǎn)品
電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動化零部、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板電子芯片ic、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物力性變化的理想測試工具。
三箱式冷熱沖擊試驗箱封裝產(chǎn)品
參數(shù):
一、高低溫區(qū)溫度范圍:高溫區(qū)部分:+80℃至+200℃。低溫區(qū)部分:-10℃至-55℃。
二、溫度測試范圍:高溫:+60℃至+150℃。低溫:0℃至-40℃。
三、控制精度:+(-)2℃。
四、解析精度:0.01℃。
五、高溫區(qū)升溫時間:自常溫至150℃,約60分鐘。
六、低溫區(qū)降溫時間:自常溫至-40℃,約80分鐘。
七、冷熱沖擊試驗箱測試區(qū)溫度恢復(fù)時間:3-5分鐘。
技術(shù)參數(shù):
型號:TSB-80F-3P
標(biāo)稱容積:80L
試驗方式:氣動風(fēng)門切換3溫室方式
高溫室性能:預(yù)熱上限溫度(+200℃)
高溫室升溫速率:(+70℃→+200℃≤20min)
低溫室性能:預(yù)冷下限溫度(-75℃)
低溫室降溫速率:(+70℃→-150℃≤80min)
試驗室溫度偏差:±2.0℃
試驗室高溫沖擊范圍:(+70℃→+150℃)
試驗室低溫沖擊范圍:(-10℃→-55℃)
試驗室溫度恢復(fù)時間:≤5min
試樣籃高低溫室轉(zhuǎn)換時間:≤10s
試樣擱架承載能力:30kg
使用時注意事項
1、冷熱沖擊試驗箱運行過程中,除非有需要,否則絕不要打開箱門,否則可能導(dǎo)致下列不良的后果,高溫氣流沖出箱外是非常危險的,高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)報警,產(chǎn)生錯誤操作。
2、請確認(rèn)冷熱沖擊試驗箱運行時箱門緊閉,開門前,注意箱體內(nèi)部溫度,以免燙傷或凍傷。
3、避免于十五分鐘內(nèi)反復(fù)開啟/關(guān)閉冷凍機組。
4、電路斷路器和超溫保護器是提供本機測試品以及操作者的安全保護,故請定期檢查。
5、所有試樣均勻放置,試樣的放置應(yīng)保證在工作室有效空間內(nèi)。
6、在插、拔冷熱沖擊試驗箱與計算機的通訊接口連接線時,必須先關(guān)掉計算機電源,絕不允許帶電插拔,帶電插拔有可能損壞控制器或計算機的通訊模塊。
7、請勿在設(shè)備高溫運行時切斷電源,尤其在設(shè)備內(nèi)部存在熱負(fù)載的情況下,這容易引起局部過熱,導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)零部件燒毀。
相關(guān)產(chǎn)品