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可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試

簡要描述:

可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試
可程式恒溫恒濕試驗箱試驗機適用電子、電工、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱試驗箱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的使用性試驗。

型號:SMD-150PF 瀏覽量:2290
更新時間:2023-10-24 是否能訂做:是

恒溫恒濕試驗機、恒溫恒濕實驗箱、可程式濕熱交變試驗箱、恒溫機或恒溫恒濕箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。符合標準:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗

可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試

型號:SMD-150PF

外形尺寸:500*500*400

內箱尺寸:750*1224*1615

可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試

技術指標

1、溫度范圍:-60℃~150℃

2、濕度范圍:30~98%RH(溫度在25℃~80℃時)

3、溫度均勻度:≤2℃ (空載時)

4、濕度均勻度:+2、-3%RH

5、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)

6、濕度波動度:±2%

7、溫度偏差:±2℃

8、濕度偏差:±2%

9、降溫速率:0.7~1.0℃/min

10、升溫速度:1.0~3.0℃/min

11、時間設定范圍:1~9999H

12、濕度交變范圍:40~98%RH

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