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半導體檢測高低溫試驗箱溫濕度可選

簡要描述:

半導體檢測高低溫試驗箱溫濕度可選
適用于航空、航天產品、信息電子儀器儀表,材料、電工、電子產品、各種電子元器件、在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項性能指標的檢驗:試驗數據可通過U盤拷貝,電腦霧需要安裝在任何軟件可直接打卡試驗曲線或Excel文檔。

型號:THD-408PF 瀏覽量:946
更新時間:2023-10-24 是否能訂做:是

半導體檢測高低溫試驗箱溫濕度可選

 

技術指標:

1、溫度范圍:-60℃~150℃

2、濕度范圍:30(20、10)~98%RH(溫度在25℃~80℃時)

3、溫度均勻度:≤2℃ (空載時)

4、濕度均勻度:+2、-3%RH

5、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)

6、濕度波動度:±2%

7、溫度偏差:±2℃

8、濕度偏差:±2%

9、降溫速率:0.7~1.0℃/min

10、升溫速度:1.0~3.0℃/min

11、時間設定范圍:1~9999H

12、濕度交變范圍:40~98%RH

半導體檢測高低溫試驗箱溫濕度可選

十二、使用條件:

1、安裝場地

地面平整,通風良好

設備周圍無強烈振動

設備周圍無強電磁場影響

設備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質和粉塵

設備周圍留有適當的使用及維護空間,

2、供電條件

電源要求:AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五線制

要求用戶在安裝現場為設備配置相應容量的空氣或動力開關,并且此開關必須是獨立供本設備使用(建議電源開關容量:32A)

3、環(huán)境條件

4、供水條件

采用純凈水、蒸餾水、去離子水。電阻率≥500Ω.m

5、其它注意事項

試驗過程中打開試驗箱的門,會造成箱內的溫、濕度波動;在試驗過程中如果多次打開門或長時間敞開門或試驗樣品散發(fā)濕汽,可能會造成制冷系統(tǒng)換熱器結冰而無法正常工作。

 

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